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博曼(Bowman)膜厚测试仪测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
＊可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。 使用安全简便，坚固耐用节省维护费用。而且，它符合标准DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 博曼(Bowman)膜厚测试仪高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。搭载中心搜索软件 通过扫描样品可以自动检测出线及基板点面部分的测量中心位置。 ★ 拥有防冲功能 ★ 搭载激光对焦系统 ★ 搭载测试报告自动生成软件 ★ 拥有自动测量软件以及中心搜索软件 ★ 搭载了薄膜FP法软件 让客户满意是我们金东霖科技始终的目标.
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7 半导体美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪
菲希尔（五金电镀）膜厚仪量贵金属更灵敏。标准配备有WindowsXP中文操作界面。采用最新数学FP法，采用激光自动对焦，并配备有Z轴防冲撞传感器，可防止在对焦时造成一起的损坏。可适用于各种样品，从较厚的样品（机械零部件）之大型线路板（PCB）及电子元器件等 膜厚仪，又叫膜厚计、膜厚测试仪，分为磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。 采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。 客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图,有需要的朋友请联系